Piezo-Anwendungen für die "Mikroskopie"

In diesem Abschnitt bekommen Sie einen Überblick über Piezo-Anwendungen und die dazugehörigen, von uns empfohlenen Systeme zum Applikatiponsfeld "Mikroskopie". Probenpositionierung, Scanning AFM, RAMAN, SNOM, E-Beam, Mikrolinsen- und Mikroobjektivpositionierung sind Anwendungen unserer Produkte.

Jetzt downloaden!

Z-Achsen Positionierer

Neuer Flyer für Mikroskopie-Anwendungen!


Nanotec Eléctronica entwickelte neuartiges Konzept in der AFM-Mikroskopie unter Einsatz piezoelektrischer Elemente von piezosystem jena

Die Firma Nanotec Eléctronica S.L. aus Spanien hat ein neuartiges Konzept in der AFM-Mikroskopie entwickelt. Hierbei handelt sich um eine Plattform, die konventionellen optischen Mikroskopen (Fluoreszenz-mikroskope, up-side down) oder Ramanmikroskopen erlaubt, zusätzlich zu den optischen Bildern zeitgleich ein AFM-Bild in einer atomaren Auflösung zu erzeugen. Diese beiden Bilder können simultan betrachtet werden. Um den hohen Schnelligkeits- und Auflösungsanforderungen gerecht zu werden, beinhaltet das SPM System „Nanolife“ piezolektrische Elemente (PXY 80 D12) von piezosystem jena.

Die folgenden Bilder wurden von Dr. Elena López-Elvira mit einer neuartigen AFM-Plattform im ICMM-CSIC in Madrid, Spanien gewonnen.

Weitere Informationen können bei Nanotec Eléctronica S.L. unter www.nanotec.es angefordert werden.

Jaime de Sousa
E-Mail: sousa@nanotec.es
Tel: +34918043326

 

AFM Images of Fibroblast in air

Topography AFM images of 60x60µm and Z scale 1.8µm

Non-contact mode
Contact mode

AFM Images of P3OT polymer in air (non-contact Mode)

Topography AFM (left) and Frequency Shift (right) images of 3.75x3.75 µm and Z scale 32 nm

AFM Images of DNA in buffer (non-contact mode)

Amplitude Modulation –Dynamic Scanning Force Microscopy (+ PLL)

Topography AFM (left) and Frequency Shift (right) images of 1x1µm and Z scale 3nm

Frequency Modulation –Dynamic Scanning Force Modulation

Topography AFM (left) and Dissipation (right) images of 1x1µm and Z scale 3nm

Optical and AFM images of single cells in buffer (non-contact mode)

AFM Topography (right) image of  35x35µm and Z scale 360nm

Produkte für die Mikroskopie

MIPOS Objektiv-Positionierer in Kombination mit Zeiss Mikroskop

Neue Technologien, wie STED-Mikroskopie, photoaktivierte Lokalisationsmikroskopie oder STORM-Mikroskopie ermöglichen Auflösungen von bis 2,4 nm. Die genaue Ausrichtung von Mikroskopen und Probenhalterungen erfordert daher höchste Präzision und Schnelligkeit. Nanopositioniertechnik auf Piezobasis hat dabei eine Reihe von konzeptionellen Vorteilen gegenüber konventionellen Antrieben.

Produkte von piezosystem jena  zeichnen sich durch eine nahezu unbegrenzte Auflösung im Bereich von Sub-Nanometer wie auch durch eine sehr kurze Reaktionszeit aus. Durch die hohe Steifigkeit der Elemente ergeben sich sehr kurze Reaktions- und Einschwingzeiten. Der Piezo ermöglicht dabei  Bewegungen ohne jegliches mechanisches Spiel, damit ist Verschleiß ausgeschlossen und Zuverlässigkeit bleibt langfristig gewährt.

Antriebe von piezosystem jena erzeugen Kräfte von mehreren kN und sind sowohl für Vakuumanwendungen als auch für den Tieftemperatureinsatz geeignet. Aufgrund eines speziell entwickelten Designs mit Festkörpergelenken zeichnen sich Piezoaktoren durch höchste Präzision und Schnelligkeit aus, ideal für Probenpositionierung, Strahlenausrichtung  und  Strahlenverfolgung.

Seit über 20 Jahren entwickelt piezosystem jena piezoelektrische Aktoren und Antriebe für unterschiedliche Anwendungenbereiche der Mikroskopie.  Die Produktpalette umfasst Aktoren sowohl für die senkrechte als auch für die invertierte Mikroskopie. Dabei können die Piezoantriebe einfach in bestehende Mikroskopsysteme installiert werden und sind sowohl mit Super Resolution Mikroskopen als auch mit konventionellen Mikroskopen kompatibel.

Speziell für Mikroskopieanwendungen hat piezosystem jena folgende Elemente entwickelt:

TRITOR 102 CAP - 3D Piezo-Positioniersysteme (Mikroskopie)

XYZ- Positionierer mit 40 mm Innendurchmesseröffnung; zur einfachen Probenpositionierung und deren Belichtung (Mikroskopie). TRITOR 102-Elemente lassen sich unkompliziert mit mechanischen oder elektromagnetischen Antrieben zu Positioniersystemen mit höchster Auflösung kombinieren.

  • Freier Innendurchmesser 40mm
  • Hochparallele xyz Bewegung durch Federparallelprogramme
  • Kompakte Maße bei großem Stellbereich
  • Spielfreie Bewegung durch Festkörpergelenke
  • Hohe Auflösung im nm- und sub-nm-Bereich
  • Integrierte Wegübersetzung
  • Stellbereich bis 100/80µm (open/closed loop)


Produktseite TRITOR 102 CAP für die Mikroskopie

 

PZ 300 AP –  Z-Achsen Positionierer für die Mikroskopie

Ultraflacher Z-Tisch; entwickelt für die Aufnahme in motorischen XY-Mikroskoptischen. Besondere Kennzeichen sind die geringe Bauhöhe, die große Innenapertur zur Aufnahme von Proben und Mikroskopie-Accessoires sowie die Kompatibilität mit den gängigen motorischen XY-Mikroskoptischen von Märzhäusern und PRIOR Scientific. Die Flexibilität im Einsatzbereich, die große Innenöffnung und die präzise Dynamik des PZ 300 AP machen ihn zu einer ausgezeichneten Lösung für anspruchsvolle Positionieraufgaben am Mikroskop.

  • Ultraflacher Z-Tisch für die Mikroskopie
  • Stellbereich 300µm in Z-Achse
  • Hochauflösende kapazitive Positionssensorik
  • Integrierbar in Mikrokoptische mit K-Frame (z.B. Märzhäuser, PRIOR Scientific)
  • Große Innenapertur zur Aufnahme von Probenhaltern z.B. Mikro-Wells
  • Sehr geringe Einschwingzeit durch optimiertes dynamisches Verhalten
  • Hohe mechanische Belastbarkeit und Flexibilität


Produktseite PZ 300 AP für die Mikroskopie

KOMPATIBLE MIKROSKOPE/MIKROSKOPTISCHE:

 

Märzhäuser SCAN IM

Prior ProScan H117

Prior ProScan H101a

Leica DMI3000–5000

Leica DMI4000/5000/6000        

Leica DM - range

Leica DMI5000M

Leica DMIRB

Nikon Eclipse - range

Nikon Eclipse MA100

Nikon TE2000/TI

Olympus BX - range

Nikon Eclipse MA200

Olympus IX51/71/81

Olympus IX51/71/81

Olympus BX45/BX51/BX61       

Zeiss AxioObserver

Zeiss AxioImager

Olympus WI/GX51/GX71

Zeiss AxioVert 200

Zeiss Axioplan

Olympus IX51/IX71/IX81

Zeiss AxioSkop

Zeiss AxioObserver

Zeiss AxioVert 200

MICI-KMI53 - Semprex Kit für die Mikroskopie

Der MICI-KMI53 wurde auf ist ein Ergebnis der Zusammenarbeit zwischen piezosystem jena und Semprex ® Corp. Die Basis bildet der PZ 300 AP Z-Tisch. Durch die Kombination der Vorteile von manueller und automatisierter Ausrichtung deckt der Mikroskopietisch eine sehr breites Positionierungsspektrum ab. Der digitale Vernier-Mikrometer ist dabei für den Stellbereich von bis zu 25 mm zuständig. Der Mikrometer-Halter MICI realisiert hingegen Bewegungen von einer Genauigkeit bis zu 200 µm.

Kits und Zubehör für die Mikroskopie

Zusammen mit Partnern aus dem Bereich der Mikroskopie bietet piezosystem jena spezielle Lösungen für unterschiedliche Anwendungsgebiete an, wie beispielsweise die Kombination von manueller und automatischer Positionierung, Probenerwärmung, thermische Isolierung und CO² Überwachung.

 

Bioptechs "Z" Probentemperierung

  • Für den Einsatz auf dem Mikroskoptisch
  • Reduzierter Z-Achsen-Drift
  • Massearmer Tisch

 

Bioptechs Delta-T-open Petri-System

  • Entwickelt für das Handling mit lebender Zellen
  • Z-Achse stabil
  • Ermöglicht zeitgleiches inkubieren und untersuchen, ohne dass die Zellen übertragen werden zu muss
  • Einsetzbar bei Umgebungstemperaturen von bis max. 50 ° C
  • Flüssigkeits- und Gasdurchströmung möglich

  

Fragen Sie uns nach anderen Lösungen zur Umgebungskontrolle:

  • CO2-Regelung
  • Objekt-Kühlmanschetten
  • Thermische Objekt-Isolatoren
  • Probenkühlringe
  • Thermische Isolator für Proben

Wirkung von thermaler Isolation bei Objektiven

Demonstration Adapter für MIPOS Objektiv Positionierer

(+49) 3641 66 88-0

Unsere Ingenieure stehen Ihnen gern für eine umfassende Beratung zur Verfügung.

E-Mail-Adresse: info@piezojena.com

Kontaktformular

Wir melden uns schnellstmöglich bei Ihnen!

Unsere Partner weltweit